張瑞福粉末測(cè)試技術(shù)研究所

    PSI-4系列為第四代透過(guò)法粒度測(cè)定儀，是測(cè)定金屬、非金屬及其化合物粉末的比表面積和粒度的裝置�？蓮V泛應(yīng)用于粉末冶金、精細(xì)化工、硅酸鹽工業(yè)、食品、制藥、核工業(yè)、以及表面技術(shù)的各種粉末粒度和比表面積的測(cè)定。本儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，儀器有快速計(jì)算板或測(cè)高儀，不需要復(fù)雜計(jì)算，測(cè)定一次只需3-5分鐘。
    本儀器運(yùn)用的測(cè)定方法為"張瑞福法"，該方法是測(cè)定金屬及其化合物粉末比表面積和粒度的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)：GB11107-89和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：ISO10070-91，榮獲國(guó)家發(fā)明獎(jiǎng)。國(guó)標(biāo)GB/T4062-98三氧化二銻平均粒度的測(cè)定采用本儀器進(jìn)行檢測(cè)。本測(cè)定儀微米級(jí)測(cè)試結(jié)果與費(fèi)舍爾粒度儀完全一致，納米級(jí)透過(guò)法粒度測(cè)量是世界首創(chuàng)。

PSI-4系列透過(guò)法粒度測(cè)定儀